经济型SUNPLUS塑料颗粒黑点仪
颗粒表面的黑点是影响产品质量的重要原因。由于颗粒的外形不规则及透光度不同，颗粒的黑点检测一直是技术难点。Sunplus利用专门设计的光学成像方法，推出批次静态检测方法，可以有效解决颗粒的黑点检测难题。这种静态黑点检测法的优点是批次操作，检测准确，还可以数颗粒的个数，从而获得黑点颗粒比，为产品的质量评判提供有价值的参数。
SUNPLUS塑料颗粒黑点仪用途Application
按相关**标准分析树脂颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比。
适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。
也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。
技术指标Specifications
1.测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。
2.*小检测目标：0.1mm
3.检测精度：小于0.025mm
4.检测面积：不小于200×200mm
5.器皿大小：120mm×120mm净面积，或定制
6.放大倍数：>20倍
7.光密度:不小于6000流明
8.光源要求:24V/60W
9.供电电源：220V,50HZ
10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
仪器功能特点
1.测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。
2.可提供黑点，以及膜片质地纹路的分布图谱。
3.黑点或膜片质地分布可放大和缩小。
4.被测目标可分类计数和统计。
5.按适用的标准自动生成检测报告。
6.报告和图谱可打印可储存。
7.进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。
8.颗粒以透明器皿为载体，批次检测。
更多访问：
http://www.sunplustech.cn/Products-37314273.html
https://www.chem17.com/st198805/list_2398981.html
颗粒表面的黑点是影响产品质量的重要原因。由于颗粒的外形不规则及透光度不同，颗粒的黑点检测一直是技术难点。Sunplus利用专门设计的光学成像方法，推出批次静态检测方法，可以有效解决颗粒的黑点检测难题。这种静态黑点检测法的优点是批次操作，检测准确，还可以数颗粒的个数，从而获得黑点颗粒比，为产品的质量评判提供有价值的参数。
SUNPLUS塑料颗粒黑点仪用途Application
按相关**标准分析树脂颗粒的杂质黑点的大小、数量，以及黑点颗粒占比。
适用于透明、半透明、不透明的膜片、颗粒，如PP、PE、PVC、PPS等等。
也适用薄膜等透明体的黑点和内在疵点的检测和分析。
技术指标Specifications
1.测量规格：0.1mm,0.2mm,0.3,0.4mm,0.8mm,1.0mm,1.2mm，…,等等,按选用的标准，可在软件界面选定。
2.*小检测目标：0.1mm
3.检测精度：小于0.025mm
4.检测面积：不小于200×200mm
5.器皿大小：120mm×120mm净面积，或定制
6.放大倍数：>20倍
7.光密度:不小于6000流明
8.光源要求:24V/60W
9.供电电源：220V,50HZ
10.外形尺寸：约459mmⅹ426mmⅹ(276mm+380mm)
仪器功能特点
1.测量黑点的大小和数量,以及黑点颗粒占比数。
2.可提供黑点，以及膜片质地纹路的分布图谱。
3.黑点或膜片质地分布可放大和缩小。
4.被测目标可分类计数和统计。
5.按适用的标准自动生成检测报告。
6.报告和图谱可打印可储存。
7.进样方向与屏幕显示的走向一致，友好的界面视觉感。
8.颗粒以透明器皿为载体，批次检测。
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